近红外显微镜采用红外光源（波长在800nm到20μm）观察产品，但是近红外显微镜并非所有材质都可以穿透观察，今天小编和大家展示近红外显微镜在半导体芯片检测中的应用案例。
1、半导体芯片内部电路检测。看芯片内部线路是否有短路，断路，键合情况，是否有脏污等。
2、芯片mark标记检测。
其他半导体芯片检测图
由上可以看出，近红外显微镜外观看起来和普通的无锡金相显微镜一样，但是他像“透视眼”的功能普通无锡金相显微镜则没有，感兴趣的朋友可以先寄样品来测试。
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无锡近红外显微镜应用之半导体芯片检测
分类：行业动态 发布时间：2023-12-19 3540次浏览
今年，汇光科技遇到许多在半导体芯片检测上需要用到近红外显微镜的，感兴趣的朋友一起来看看吧
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