这是硅片，一种重要的半导体材料，需要观察表面有没有划痕，以及薄膜厚度的测量。
如果用无锡工业显微镜，无法满足膜厚的测量；如果直接用膜厚仪，又无法实现清晰观察，我们选择这款半导体显微膜厚仪，膜厚仪搭配显微成像系统，测量迅速，拟合值几乎重合。
可应用于光阻、半导体材料、高分子材料等薄膜层的厚度测量，在半导体、太阳能、液晶面板和光学行业得到了广泛的应用和好评。
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无锡半导体显微膜厚仪，快速无损测量薄膜厚度
分类：行业动态 发布时间：2025-01-23 499次浏览
这款半导体显微膜厚仪集工业显微镜的成像性能、膜厚仪的测量、高性价比为一体……
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